3-036-R001型SF6气体综合分析仪

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更新时间：2024-06-16

简要描述：测量SF6气体的微水，纯度和杂质
．离子迁移光谱计(IMS)，测量SF6气体中的微量杂质

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产品详情

3-036-R001型SF6气体综合分析仪功能

．测量SF6气体的微水，纯度和杂质
．离子迁移光谱计(IMS)，测量SF6气体中的微量杂质
．百分比测量，确定SF6气体中的空气含量
．湿度测量，确定SF6气体中的微水含量
3-036-R001型SF6气体综合分析仪配置
--操作方便的旋钮，双键和显示屏。
--当超过设定限值时直接指示。
--几个测量点的记忆(测量点可以任何名字存储)。
--CD-ROM软件可向PC机传送数据并评估测量值。
--2米和4米长的气体软管，带DN8和DN20自封接头。
--自封连接件。
--壳体带把手，便于运输和放置。
--2米长电源线。
--串行电缆。
--与分析仪气体回收系统相连的接口。
--铝质手提箱。
技术规格
IMS(杂质)测量范围： 0-5000 ppm
测量精度： ±100 ppm
气体湿度测量范围： -45 - +10°C(露点)
气体湿度测量精度： ±4°C
气体百分比测量范围： 0-100 Vol % SF6
气体百分比测量精度： ±1%(基于SF6-N2混合气体)
入口压力： Pe 0.5-14 bar
流量：约33 升/小时(三种模式一起)
测量时间：约5分钟
功能描述
SF6气体分析仪主要用于控制SF6断路器及SF6组合电器中的SF6气体质量。

该分析仪在使用一个气体接口情况下可以同时测量SF6气体中的杂质(分解产物总量)，SF6-空气或SF6-N2混合气体中的SF6气体纯度及SF6气体的微水含量。

采用IMS模块，通过测量一个电场中的离子迁移时间来探测SF6气体中的杂质。根据产生的离子化气体的迁移性，SF6气体中的杂质总量能显示出来。

SF6气体百分比含量的测量的基于对SF6气体声速的评估。湿度测量以露点(°C )来反映SF6气体中的微水含量，也能以ppm显示。

所有测量在常压下进行。

通过使用显示屏可以方便而快速的进行测量。一个旋钮和两个键就可以操作仪器了。一旦有分解产物杂质存在，立即发出声光报警。

根据CIGRE标准预置了报警的解除，操作者可以调整。

测量值能和存储，随供的软件可以传送数据并在PC机上进行评估。以前的纯SF6气体的标准值能随每个测量值一起存储，每天一次，确保测量值与纯SF6气体的直接比较。

分析仪可以连在B151R01型分析仪气体回收系统上，确保测量过程中没有SF6气体排放到大气中。

如果您对本品感兴趣请与我公司

北京东方安诺生化科技有限公司

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： www.annovatech.com

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