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ElSiX X射线探测器(电致冷)
应用领域:
ElSiX系统采用电致冷冷却,可用于X射线荧光分析仪、X射线双色层分析仪和X射线能谱仪,适用于液氮致冷方法无法或者禁止使用的领域。
全套系统:
SiLi探头
压缩单元
连接煤气管道
特点:
无液氮冷却
高能量分辨率
薄铍窗
任何空间方位的检测
断电后自动重启
*持续功能
设计紧凑重量轻
技术参数
技术规格:
技术参数 数值
能量范围(keV) 1 - 60
探头灵敏面积( mm2 ) 20 *
能量分辨率为 5.9 keV( eV )
16 μs的成峰时间 138
1 μs的成峰时间 268
记数率为105 cps,成峰时间1 μs 275
峰/本底的比率 > 4000
冷却时间(h) 3
环境温度(°С) -5 to +38
工作模式 持续测量
探头方位空间的限制 任意
电压(V )/ 频率(Hz) 200 / 50-60
电源(W ) < 60
尺寸(mm):
检测单元 80x135x150
压缩单元 140x160x300
重量( kg)
检测单元 1.8
压缩单元 7.5
可订制不同灵敏面积的探测器。
SiLi X-射线探测器(电致冷)
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北京东方安诺生化科技有限公司
: -8006 李
传真:
Emai: icerlj
:www.annovatech.com